분광학적 한계를 뛰어넘어 차분 라만 분석의 새로운 시대를 열다

2025년 7월 14일

전통적인 라만 분광법은 재료 분석에 널리 사용되어 왔지만, 형광으로 인한 배경 간섭 및 불충분한 신호 감도와 같은 여러 가지 한계로 인해 성능 향상에 큰 진전을 이루지 못했습니다. 이러한 문제를 해결하기 위해 시프트 여기 라만 차이 분광법(SERDS) 기술이 등장했습니다. SERDS는 이중 파장 레이저를 정밀하게 제어하여 재료 특성 신호를 '차등적으로 증폭'함으로써 미시 세계의 지문 정보를 더욱 높은 대비와 정확한 치수로 나타낼 수 있게 합니다.

SERDS 기술 원칙:

SERDS는 파장이 극히 근접한(Δλ < 1nm) 두 개의 레이저(일반적으로 나노미터 수준의 좁은 선폭 광원)를 사용하여 시료를 교대로 여기시킵니다. 서로 다른 물질 분자는 서로 다른 파장의 빛에 대해 각기 다른 반응을 보이므로, 라만 산란 스펙트럼은 특유의 시프트를 나타냅니다. 알고리즘을 통해 두 파장 신호의 차이를 정확하게 계산함으로써 형광 간섭을 효과적으로 억제하고 목표 신호를 증폭할 수 있으며, 다음과 같은 획기적인 결과를 얻을 수 있습니다.

항간섭 능력을 3~5배 향상: 생물학적 시료의 자발적 형광 또는 복잡한 매트릭스 배경 간섭을 제거합니다.

검출 감도가 ppm 수준을 초과하여 미량 의약품 성분, 오염 물질 등의 고정밀 분석에 적합합니다.

분광 분석 차원 업그레이드: 기존 단일 파장 방식으로는 포착할 수 없었던 진동 모드 차이를 얻을 수 있습니다.

784.5nm 및 785.5nm 이중 파장 레이저SERDS 기술의 '황금 광원'

이중 파장 협대역 레이저 구성 요소, 모듈, 시스템 매개변수

리얼라이트‘s NL 시리즈 협대역 다이오드 레이저 SERDS는 라만 레이저입니다. 784.5nm 및 785.5nm 이중 파장 다이오드 레이저는 SERDS를 위해 특별히 개발되었으며 수천 건의 스펙트럼 데이터베이스 시뮬레이션 및 실험을 통해 검증되었습니다.

784.5nm: 시료의 '특징적인 진동 영역'을 여기시켜 높은 신호 대 잡음비의 신호를 생성합니다.

785.5nm: 파장을 정밀하게 이동시켜 '대조 진동 영역'을 여기시키고 차동 기준을 형성합니다.

두 신호의 파장 차이는 1nm도 채 되지 않지만, '신호 차이를 극대화하고 배경 잡음을 최소화하는' 최적의 균형을 이룰 수 있습니다.

기술적 이점:

좁은 선폭 정확도: <0.1nm의 선폭은 파장 안정성을 보장하고 신호 드리프트를 방지합니다.

전력 안정성: ± 2% 전력 변동 제어로 장기간 검출 반복성 보장;

온도 제어 설계: TEC 모듈 내장으로 25℃±0.5℃의 일정한 온도를 유지하여 열 잡음 간섭을 제거합니다.

적용 시나리오: 연구실에서 산업 현장까지 포괄적인 역량 강화

생의학:

암 조직 표지자 검출: 정상 세포와 암세포 간의 단백질 진동 차이 구별;

의약품 성분 확인: 정제 코팅을 투과하여 활성 성분의 순도를 직접 분석합니다.

재료과학:

그래핀 결함 분석: 단층/다층 그래핀의 진동 모드 변위 식별;

고분자 노화 모니터링: 화학 결합 진동 변화를 통해 재료 수명 평가.

환경 모니터링:

수질 내 미량 오염물질 추적성: 물 속 ppb 수준 유기 오염물질의 신속한 식별;

대기 미세먼지 성분 분석: PM2.5 내 무기/유기 성분 구분.

고객의 요구에 유연하게 대응하기 위해, 리얼라이트 제공할 뿐만 아니라 784.5nm 및 785.5nm 이중 파장 다이오드 레이저 모듈하지만 또한 제공합니다 OEM 모듈 2차 개발 및 플러그 앤 플레이를 지원합니다. 레이저 시스템 과학 연구 및 실험적 응용을 용이하게 하는 것들.

언제든 편하게 연락 주셔서 흥미진진한 차분 라만 분석의 새로운 여정을 함께 시작해 보세요!